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產(chǎn)品與技術(shù)

P & T產(chǎn)品與技術(shù)

芯天成光學(xué)鄰近矯正平臺EsseOPC

EsseOPC平臺全自主開發(fā),擁有獨(dú)立知識產(chǎn)權(quán),具有先進(jìn)性、一致性和易用性三大特點(diǎn)。產(chǎn)品架構(gòu)規(guī)劃具有前瞻性,以兼顧國產(chǎn)替代及未來先進(jìn)工藝的應(yīng)用;同時(shí)在前沿的光刻模型、反演光刻和數(shù)據(jù)庫海量高速讀寫及交換技術(shù)等方面有豐厚的技術(shù)積累和IPs。平臺支持以DUV光刻過程實(shí)現(xiàn)的14nm及更先進(jìn)工藝節(jié)點(diǎn)生產(chǎn)的核心技術(shù),為國產(chǎn)先進(jìn)工藝節(jié)點(diǎn)生產(chǎn)保駕護(hù)航,同時(shí)也是國微芯設(shè)計(jì)工藝協(xié)同優(yōu)化(DTCO)的重要載體平臺。
芯天成光學(xué)鄰近矯正平臺

EsseRBOPC

EsseRBAF

EsseMBOPC

EsseVerify

產(chǎn)品簡介

芯天成基于規(guī)則的版圖修正工具EsseRBOPC(RBOPC,Rule-based Optical Proximity Correction),可為各類技術(shù)節(jié)點(diǎn)提供穩(wěn)定、準(zhǔn)確和高速的工業(yè)級全芯片版圖修正解決方案,以應(yīng)對半導(dǎo)體制造工藝中的光學(xué)臨近效應(yīng)、刻蝕效應(yīng)和良率瓶頸等問題。

該產(chǎn)品基于分布式計(jì)算架構(gòu)和異種任務(wù)智能集群技術(shù)、集成高性能統(tǒng)一數(shù)據(jù)庫、高性能幾何圖形引擎、標(biāo)簽引擎和區(qū)域線段化引擎等先進(jìn)算法,能夠高速處理超大規(guī)模版圖數(shù)據(jù),為復(fù)雜幾何圖形及先進(jìn)工藝規(guī)則提供高精度的解決方案。

核心優(yōu)勢

  • 支持先進(jìn)技術(shù)節(jié)點(diǎn)全版圖簽核驗(yàn)證;

  • 制造端EDA共用高速數(shù)據(jù)底座;

  • 提供AI及GPU加速技術(shù);

  • 異種任務(wù)智能集群的分布式構(gòu)架;

  • 高度可定制化的用戶編程接口。


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產(chǎn)品功能

  • 基于幾何特征的圖形選取及操作;

  • 圖形特征標(biāo)簽?zāi)K(Tagging);

  • 精確的版圖線段化模塊;

  • 快速參數(shù)化修正模塊;

  • 嚴(yán)格的內(nèi)置規(guī)則檢查引擎(MRC)。

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應(yīng)用方案

  • 基于規(guī)則的高效光學(xué)臨近效應(yīng)修正;

  • 全部技術(shù)節(jié)點(diǎn)的刻蝕效應(yīng)補(bǔ)償;

  • 定制化局部熱點(diǎn)區(qū)域修正。





產(chǎn)品簡介

芯天成基于規(guī)則的輔助圖形工具EsseRBAF(RBAF,Rule-based Assist Features),能夠高效的為工業(yè)級全芯片版圖開發(fā)全面、精確的亞分辨率輔助圖形,使芯片制造在光刻工藝中獲得更大的工藝窗口、更穩(wěn)定的晶圓成像和更優(yōu)異的產(chǎn)品品質(zhì)。

亞分辨率輔助圖形是光學(xué)臨近修正在先進(jìn)技術(shù)節(jié)點(diǎn)中的重要組成部分。芯片制造商在芯片版圖中專門生成低于光刻系統(tǒng)分辨率的輔助圖形,來幫助目標(biāo)區(qū)域在不同工藝條件下?lián)碛袃?yōu)異的光強(qiáng)對比度,最終獲得符合標(biāo)準(zhǔn)的穩(wěn)健圖形。


核心優(yōu)勢

  • 制造端EDA共用高速數(shù)據(jù)底座;

  • 提供AI及GPU加速技術(shù);

  • 異種任務(wù)智能集群的分布式構(gòu)架;

  • 高度可定制化的用戶編程接口;

  • 高速輔助圖形生成引擎;

  • 支持先進(jìn)技術(shù)節(jié)點(diǎn)全版圖簽核驗(yàn)證。

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產(chǎn)品功能

  • 支持正向 AF(SRAF)和反向 AF(SRIF);

  • 復(fù)雜幾何環(huán)境的 AF 生成;

  • 基于標(biāo)簽(Tagging)技術(shù)的AF生成;

  • 多種自定義優(yōu)先級的沖突處理機(jī)制。

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應(yīng)用方案

  • 芯片金屬層亞分辨率散射條;

  • 芯片通孔層亞分辨率輔助圖形;

  • 定制化亞分辨率輔助圖形模板;

  • 復(fù)雜環(huán)境的輔助圖形嵌入。


產(chǎn)品簡介

芯天成基于模型(支持工藝窗口模型)的版圖修正工具EsseMBOPC(MBOPC,Model-based Optical Proximity Correction),可為各類技術(shù)節(jié)點(diǎn)提供穩(wěn)定、準(zhǔn)確和高速的工業(yè)級全芯片版圖修正解決方案。EsseMBOPC可導(dǎo)入工藝窗口模型(Process Window Model),生成符合制造規(guī)則的掩模圖形;提升光刻成像質(zhì)量,使光刻圖像更加接近目標(biāo)圖形;并同時(shí)提升光刻工藝窗口,滿足半導(dǎo)體制造的良率要求。

 該產(chǎn)品基于分布式計(jì)算架構(gòu)和異種任務(wù)智能集群技術(shù)、集成高性能統(tǒng)一數(shù)據(jù)庫、高性能幾何圖形引擎、標(biāo)簽引擎和區(qū)域線段化引擎等先進(jìn)算法,能夠高速處理超大規(guī)模版圖數(shù)據(jù),為復(fù)雜幾何圖形及先進(jìn)工藝規(guī)則提供高精度的解決方案。


核心優(yōu)勢

  • 支持先進(jìn)技術(shù)節(jié)點(diǎn)全版圖簽核驗(yàn)證

  • 制造端EDA共用高速數(shù)據(jù)底座;

  • 提供AI及GPU加速技術(shù);

  • 異種任務(wù)智能集群的分布式構(gòu)架;

  • 高度可定制化的用戶編程接口;

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產(chǎn)品功能

  • 嚴(yán)格的內(nèi)置規(guī)則檢查引擎(MRC)

  • 基于幾何特征的圖形選取及操作;

  • 圖形特征標(biāo)簽?zāi)K(Tagging);

  • 精確的版圖線段化模塊;

  • 可導(dǎo)入模型(支持工藝窗口模型);

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應(yīng)用方案

  • 基于模型的高效光學(xué)臨近效應(yīng)修正;

  • 全部技術(shù)節(jié)點(diǎn)的刻蝕效應(yīng)補(bǔ)償;

  • 定制化局部熱點(diǎn)區(qū)域修正。


產(chǎn)品簡介

芯天成基于模型的驗(yàn)證工具EsseVerify,可為各類技術(shù)節(jié)點(diǎn)提供穩(wěn)定、準(zhǔn)確和高速的工業(yè)級全芯片版圖OPC結(jié)果驗(yàn)證方案。該產(chǎn)品可導(dǎo)入模型和并生成光刻仿真圖像;內(nèi)置的檢測器可快速效捕獲各類型熱點(diǎn)(Hot Spot),并有效預(yù)測光刻后的工藝窗口(Process Window),以驗(yàn)證OPC結(jié)果是否符合半導(dǎo)體工藝制造和良率要求。

 

該產(chǎn)品基于分布式計(jì)算架構(gòu)和異種任務(wù)智能集群技術(shù)、集成高性能統(tǒng)一數(shù)據(jù)庫、高性能幾何圖形引擎、標(biāo)簽引擎和區(qū)域線段化引擎等先進(jìn)算法,能夠高速處理超大規(guī)模版圖數(shù)據(jù),為復(fù)雜幾何圖形及先進(jìn)工藝規(guī)則提供高精度的解決方案。

核心優(yōu)勢

  • 制造端EDA共用高速數(shù)據(jù)底座;

  • 提供AI及GPU加速技術(shù);

  • 異種任務(wù)智能集群的分布式構(gòu)架;

  • 高度可定制化的用戶編程接口;

  • 支持先進(jìn)技術(shù)節(jié)點(diǎn)全版圖簽核驗(yàn)證。

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產(chǎn)品功能

  • 模型導(dǎo)入和光刻圖像仿真(simulation);

  • 內(nèi)置豐富的檢測器,可快速捕獲多種類型的熱點(diǎn);

  • 光刻工藝窗口預(yù)測;

  • 高速數(shù)據(jù)庫,支持全芯片范圍熱點(diǎn)記錄;

  • 熱點(diǎn)標(biāo)記并修復(fù);

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應(yīng)用方案

  • 掩膜圖形制造規(guī)則檢查;

  • 光刻圖像成像質(zhì)量檢查;

  • 熱點(diǎn)標(biāo)記和修復(fù);


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