DFT，為車規(guī)芯片裝上“安全鎖”
6月12日，國(guó)微芯聯(lián)合Siemens和深圳市高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)促進(jìn)中心，順利開(kāi)展了汽車電子芯片功能驗(yàn)證和DFT技術(shù)培訓(xùn)。本次活動(dòng)為廣大DFT工程師和芯片設(shè)計(jì)相關(guān)從業(yè)人員提供了一個(gè)深入學(xué)習(xí)、交流的平臺(tái)，旨在探討如何應(yīng)對(duì)快速發(fā)展的汽車及智能駕駛系統(tǒng)中帶來(lái)的安全隱患，并通過(guò)可測(cè)試性設(shè)計(jì)確保芯片的安全性和可靠性。
在培訓(xùn)演講中，國(guó)微芯工程師Andy Tang結(jié)合她十余年的可測(cè)試性設(shè)計(jì)經(jīng)驗(yàn)以《如何高效規(guī)劃車規(guī)芯片DFT設(shè)計(jì)技術(shù)思路以及流程》為主題，為與會(huì)者帶來(lái)了豐富的經(jīng)驗(yàn)交流和啟發(fā)。
隨著汽車及智能駕駛系統(tǒng)的快速發(fā)展，車載芯片的數(shù)量不斷增長(zhǎng)，而汽車功能的升級(jí)也帶來(lái)了安全隱患。為了防止芯片出現(xiàn)bug導(dǎo)致車輛及人員損傷的可能性，DFT工程師引入了可測(cè)試性設(shè)計(jì)到芯片設(shè)計(jì)中，以確保芯片的安全性和可靠性。
Andy Tang重點(diǎn)提到，國(guó)微芯DFT設(shè)計(jì)能夠?yàn)樾酒峁└哔|(zhì)量、低測(cè)試成本的DFT解決方案，根據(jù)芯片特點(diǎn)和設(shè)計(jì)需求，定制DFT架構(gòu)，規(guī)劃SCAN/MBIST/ REPAIR/LogicBist/BSCAN方案幫助完成IP測(cè)試、ATE測(cè)試、向量診斷和良率提升等任務(wù)，助力車規(guī)芯片滿足各項(xiàng)國(guó)際安全質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的要求，并介紹了以下幾個(gè)關(guān)鍵的“技術(shù)亮點(diǎn)”。
Memory BIST 架構(gòu)實(shí)現(xiàn)存儲(chǔ)器“自愈”
為確保汽車的安全性，芯片儲(chǔ)存器必須是安全可靠的。汽車芯片中的存儲(chǔ)器故障可能導(dǎo)致汽車無(wú)法啟動(dòng)、系統(tǒng)無(wú)法正常運(yùn)行或無(wú)法響應(yīng)駕駛員的指令等問(wèn)題。國(guó)微芯的Memory BIST系統(tǒng)架構(gòu)，具備算法原子化及適應(yīng)先進(jìn)工藝制造條件下復(fù)雜多變的算法需求的能力，可以實(shí)現(xiàn)儲(chǔ)存器的自診斷-自修復(fù)過(guò)程，以確保儲(chǔ)存器的可靠性和穩(wěn)定性。
在線自測(cè)試確保系統(tǒng)穩(wěn)定性
國(guó)微芯使用Mission Mode Controller，配合計(jì)算機(jī)系統(tǒng)完成在線自測(cè)試和診斷，修復(fù)，包括模塊的功能驗(yàn)證檢查。此外，還可以在芯片功能運(yùn)行期間定期進(jìn)行測(cè)試，通過(guò)低延遲的系統(tǒng)級(jí)訪問(wèn)方式，對(duì)所有芯片上的測(cè)試資源進(jìn)行在線測(cè)試和診斷，包括模塊的功能驗(yàn)證檢查、跨時(shí)鐘域的亞穩(wěn)態(tài)檢查等等，以確保芯片系統(tǒng)的穩(wěn)定性。
Scan技術(shù)促進(jìn)測(cè)試-設(shè)計(jì)迭代
Scan技術(shù)在測(cè)試和檢測(cè)邏輯電路方面發(fā)揮了作用。通過(guò)機(jī)臺(tái)測(cè)試，檢測(cè)芯片生產(chǎn)過(guò)程工藝缺陷探查芯片應(yīng)用條件邊界，高效設(shè)定生產(chǎn)篩選規(guī)格，并通過(guò)分析測(cè)試結(jié)果識(shí)別設(shè)計(jì)問(wèn)題，促進(jìn)測(cè)試-設(shè)計(jì)迭代。所積累的產(chǎn)品系列數(shù)據(jù)，可以為未來(lái)的產(chǎn)品提供參考，提高芯片的可測(cè)試性和質(zhì)量。
要開(kāi)發(fā)一款成功的車規(guī)芯片，需要從芯片設(shè)計(jì)的源頭開(kāi)始，貫穿設(shè)計(jì)、制造和封裝測(cè)試等環(huán)節(jié)，進(jìn)行全方位的把控。國(guó)微芯DFT團(tuán)隊(duì)?wèi){借多個(gè)自研架構(gòu)和豐富的設(shè)計(jì)經(jīng)驗(yàn)，提供全面的車規(guī)解決方案，確保車規(guī)安全，致力于為客戶提供最優(yōu)質(zhì)的服務(wù)，幫助客戶提高芯片測(cè)試效率和可靠性，降低成本，并縮短產(chǎn)品上市時(shí)間。
本次培訓(xùn)活動(dòng)的順利舉辦，為車規(guī)芯片的開(kāi)發(fā)與應(yīng)用領(lǐng)域帶來(lái)了寶貴的交流和合作機(jī)會(huì)。未來(lái)，國(guó)微芯DFT團(tuán)隊(duì)將繼續(xù)發(fā)揮自身優(yōu)勢(shì)，推動(dòng)車規(guī)芯片技術(shù)的創(chuàng)新和應(yīng)用的推廣，以滿足不斷升級(jí)的車規(guī)標(biāo)準(zhǔn)和日益復(fù)雜的應(yīng)用場(chǎng)景。同時(shí)，國(guó)微芯還將與合作伙伴們加強(qiáng)溝通與合作，共同推動(dòng)車規(guī)芯片產(chǎn)業(yè)的快速發(fā)展，為構(gòu)建智能、安全、可靠的汽車交通系統(tǒng)貢獻(xiàn)力量。
